文献

J-GLOBAL ID：201602241084608608   整理番号：16A1091523

準超薄切片の超薄像観察法(SEM切片法)の開発と応用

著者 (4件)： 甲賀大輔 (旭川医大 医 顕微解剖学分野) ,  久住聡 (鹿児島大 大学院医歯学総合研究科 形態科学分野) ,  暮地本宙己 (旭川医大 医 顕微解剖学分野) ,  渡部剛 (旭川医大 医 顕微解剖学分野)
資料名： 日本顕微鏡学会北海道支部学術講演会講演要旨集  (Abstracts. General Meeting of Japanese Society of Microscopy. Hokkaido Branch)
巻： 2015  ページ： 14  発行年： 2015年12月12日 
JST資料番号： L6116A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *走査電子顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： 蛍光画像 ,...

ログイン（無料）して見る     続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=16A1091523&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L6116A") }}

分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 超薄切片 ,  観察 ,  SEM ,  切片法 ,  開発 ,  応用