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J-GLOBAL ID：201602242615636786   整理番号：16A0848909

偏光計測CMOSイメージセンサを用いたマイクロリアクタ向け不斉反応計測デバイスの性能向上

著者 (9件)： 中塚篤志 (奈良先端科学技術大学院大) ,  中野百恵 (奈良先端科学技術大学院大) ,  竹原宏明 (奈良先端科学技術大学院大) ,  野田俊彦 (奈良先端科学技術大学院大) ,  笹川清隆 (奈良先端科学技術大学院大) ,  徳田崇 (奈良先端科学技術大学院大) ,  西山靖浩 (奈良先端科学技術大学院大) ,  垣内喜代三 (奈良先端科学技術大学院大) ,  太田淳 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： 映像情報メディア学会年次大会講演予稿集(CD-ROM)  (Proceedings of the ITE Annual Convention)
巻： 2016  ページ： ROMBUNNO.21E-2  発行年： 2016年08月17日 
JST資料番号： S0530B  ISSN： 1880-6961  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： イメージセンサ ,  CMOS構造 ,  *偏光測定 ,  *マイクロリアクタ ,  不斉反応 ,  CMOSイメージセンサ ,  MOS構造

分類 (1件)： 偏光測定と偏光計  (BD07050K)

引用文献 (2件)：

• [1] T.Tokuda et al : “ Polarization - Analyzing CMOS Image Sensor With Monolithically Em bedded Polarizer for Microchemistry Systems ” , IEEE TRANSACTIONS ON BIOMEDICAL CIRCUITS AND SYSTEMS , 3 , 5 , pp.259 - 266(OCT 2009)
• [2] T.Tokuda et al : “ CMOS sensor - based palm - sized in - line optical analysis device for microchemistry systems ” ,ELECTRONICS LETTERS, 50, 17, pp.1222 - 1223(AUG 2014)

タイトルに関連する用語 (6件)： 偏光 ,  計測 ,  CMOSイメージセンサ ,  マイクロリアクタ ,  不斉反応 ,  性能向上