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J-GLOBAL ID：201702228017882460   整理番号：17A0608252

静水圧下超音波計測によるシリコン原子空孔軌道の研究

著者 (6件)： 三原佳祐 (新潟大 大学院) ,  坂井隼人 (新潟大 大学院) ,  三本啓輔 (新潟大 大学院) ,  赤津光洋 (新潟大 理) ,  根本祐一 (新潟大 大学院) ,  後藤輝孝 (新潟大 大学院)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 1  ページ： ROMBUNNO.18pS-PS-30  発行年： 2017年03月21日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *ケイ素 ,  *静水圧 ,  *超音波応用計測 ,  *空孔欠陥 ,  軌道 ,  *四重極 ,  格子歪 ,  スピン-軌道相互作用 ,  *弾性係数 ,  *ホウ素 ,  *ドーピング ,  画像技術 ,  画像診断 ,  *弾性表面波 ,  原子空孔
準シソーラス用語： 光トポグラフィー

分類 (2件)： 半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C)

タイトルに関連する用語 (6件)： 静水圧 ,  超音波計測 ,  シリコン ,  原子空孔 ,  軌道 ,  研究