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J-GLOBAL ID：201702272379272235   整理番号：17A0787979

極低温STM/STSを用いた準粒子干渉測定からみるCeCoIn₅における近藤ホールの電子状態

著者 (9件)： 土師将裕 (京大) ,  鳥井陽平 (京大) ,  HUANG Wen-Kai (京大) ,  笠原成 (京大) ,  笠原裕一 (京大) ,  花栗哲郎 (理研 創発物性科学研究セ) ,  芝内孝禎 (東大) ,  寺嶋孝仁 (京大) ,  松田祐司 (京大)
資料名： 京都大学物性科学センター誌  (LTMセンター誌)
号： 30  ページ： 32  発行年： 2017年06月 
JST資料番号： L7590A  ISSN： 2432-0587  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *極低温 ,  *走査型トンネル顕微鏡 ,  *トンネル分光法 ,  *インジウム合金 ,  セリウム含有合金 ,  コバルト含有合金 ,  *干渉 ,  *不純物 ,  *Kondo効果 ,  電子 ,  *MBE成長 ,  *金属薄膜 ,  f電子 ,  *準粒子干渉 ,  *非磁性不純物
準シソーラス用語： Kondo格子 ,  STM/STS

分類 (2件)： 金属結晶の電子伝導  (BM03033M) ,  その他の接合  (BM03088W)

タイトルに関連する用語 (6件)： 極低温 ,  STM ,  STS ,  準粒子干渉 ,  ホール ,  電子状態