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J-GLOBAL ID：201802210321206827   整理番号：18A0631485

硬X線光電子分光法を用いたITO/a-Si界面特性の評価

著者 (9件)： 西原達平 (明治大 理工) ,  小島拓人 (明治大 理工) ,  肥山卓矢 (明治大 理工) ,  松村英樹 (北陸先端科学技術大学院大) ,  神岡武文 (豊田工大) ,  大下祥雄 (豊田工大) ,  安野聡 (高輝度光科学研究セ) ,  廣沢一郎 (高輝度光科学研究セ) ,  小椋厚志 (明治大 理工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 65th  ページ： ROMBUNNO.18a-D101-8  発行年： 2018年03月05日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線光電子分光法 ,  酸化インジウムスズ ,  *アモルファスシリコン ,  界面 ,  *太陽電池
準シソーラス用語： ITO ,  界面特性

分類 (1件)： 太陽電池  (NC03084O)

タイトルに関連する用語 (5件)： 硬X線光電子分光 ,  ITO ,  Si ,  界面特性 ,  評価