特許

J-GLOBAL ID：201803006437398147

食品のテクスチャー評価方法及び食品の製造方法

発明者： 小野 高裕 ,  堀 一浩 ,  櫻井 英樹
出願人/特許権者： 国立大学法人 新潟大学 ,  森永乳業株式会社
代理人 (2件)： 渡邊 薫 ,  井上 美和子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-032927
公開番号（公開出願番号）：特開2018-134361
出願日： 2017年02月24日
公開日（公表日）： 2018年08月30日
要約：

【課題】生理計測に基づいた数値を用いて客観的に食品のテクスチャーを評価する方法を提供すること。【解決手段】 本技術は、以下の(a)で得られる値を用いて評価される、食品のテクスチャー評価方法を提供する。(a)被検食品の摂食時に舌で口蓋を押さえる際の圧力のうち、口蓋の正中線近傍部に対応する部位の圧力と辺縁部に対応する部位の圧力とを用いて下記式(1)によって算出される中外指数: 中外指数={[口蓋の正中線近傍部に対応する部位の各圧力の最大値の平均値]-[辺縁部に対応する部位の各圧力の最大値の平均値]}/[口蓋の正中線近傍部に対応する部位の各圧力の最大値と辺縁部に対応する部位の各圧力の最大値との平均値]・・・(1)【選択図】なし

請求項（抜粋）：

以下の(a)で得られる値を用いて評価される、食品のテクスチャー評価方法: (a)被検食品の摂食時に舌で口蓋を押さえる際の圧力のうち、口蓋の正中線近傍部に対応する部位の圧力と辺縁部に対応する部位の圧力とを用いて下記式(1)によって算出される中外指数。 中外指数={[口蓋の正中線近傍部に対応する部位の各圧力の最大値の平均値]-[辺縁部に対応する部位の各圧力の最大値の平均値]}/[口蓋の正中線近傍部に対応する部位の各圧力の最大値と辺縁部に対応する部位の各圧力の最大値との平均値]・・・(1)

IPC (2件)：

A61B 5/11 ,  A23L 5/00

FI (3件)：

A61B5/10 310L ,  A61B5/10 310K ,  A23L5/00 Z

Fターム (3件)：

4B035LC03 ,  4B035LC16 ,  4B035LT20