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J-GLOBAL ID：201902242726327298   整理番号：19A0769662

MRI用REBCOコイルシステムにおける遮蔽電流に起因する不整磁場の低減法(その3):ヒステリシスを利用したオーバーシュート法

著者 (6件)： 石崎比奈子 (早稲田大) ,  稲垣善太 (早稲田大) ,  伊東慶太 (早稲田大) ,  石山敦士 (早稲田大) ,  植田浩史 (岡山大) ,  野口聡 (北大)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM)  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))
巻： 2019  ページ： ROMBUNNO.5-171  発行年： 2019年03月01日 
JST資料番号： S0653B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *NMRイメージング ,  *高温超伝導体 ,  磁場 ,  *磁気ヒステリシス ,  オーバシュート ,  電磁場解析 ,  非線形性 ,  過渡解析 ,  *希土類バリウム銅酸化物 ,  解析
準シソーラス用語： *MRI【イメージング】 ,  *REBCO ,  遮蔽電流磁場

分類 (1件)： 超伝導材料  (BM04041W)

タイトルに関連する用語 (7件)： MRI ,  REBCO ,  遮蔽電流 ,  起因 ,  磁場 ,  ヒステリシス ,  シュート