抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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・1μm程度の粉末微結晶の結晶構造を明らかにすることができる,透過型電子顕微鏡を用いたマイクロ電子回折法。
・X線と比較して強く試料に散乱される電子線の回折点の測定により結晶構造を明らかにするマイクロ電子回折法の原理と試料分解を防ぐための冷却の必要性および多重散乱が起こるための解析の難しさ。
・X線結晶構造解析では感度の悪い水素原子の位置を決定できる電子回折の利点。
・電子顕微鏡のステージ上で微結晶の電子回折を行うことによる,容易で短時間でのデータ取得。