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J-GLOBAL ID：201902263548340392   整理番号：19A2598470

高感度紫外光電子分光による酸素暴露したC₆₀薄膜のギャップ内準位の観測

著者 (9件)： 木全俊輔 (千葉大) ,  清水康平 (千葉大) ,  松崎厚志 (千葉大) ,  丸山太一 (千葉大) ,  西寿朗 (ソニー) ,  冨谷茂隆 (ソニー) ,  田中有弥 (千葉大) ,  石井久夫 (千葉大) ,  石井久夫 (千葉大 MCRC)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 80th  ページ： ROMBUNNO.18p-E302-9  発行年： 2019年09月04日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： 【序】有機半導体は実用上,大気に少なからず曝されることが避けられず、主に酸素や水がその電気特性に影響を及ぼすことが知られている。このように酸素によって生じるトラップの状態密度(DOS)やエネルギー位置の分布は電気特性を論じるうえで重要である...【本文一部表示】

シソーラス用語： *フラーレンC60 ,  *光電子分光法 ,  エネルギー準位 ,  バンドギャップ ,  高感度 ,  *有機半導体 ,  状態密度 ,  化学蒸着 ,  ギャップ内準位 ,  *UPS【電子分光】
準シソーラス用語： *紫外光電子分光

分類 (2件)： 有機化合物・錯体の電子分光スペクトル(分子)  (BH06092P) ,  炭素とその化合物  (YB02060D)

タイトルに関連する用語 (8件)： 高感度 ,  紫外光電子分光 ,  酸素 ,  暴露 ,  C60 ,  薄膜 ,  ギャップ内準位 ,  観測