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J-GLOBAL ID:202002214146368594   整理番号:20A1546083

遷移金属内包シリコンケージナノクラスター薄膜の作製と電気伝導機構の解明

Fabrication of transition-metal encapsulating Si16 cage nanocluster thin films and their electrical conduction mechanisms
著者 (7件):
資料名:
巻: 100th  ページ: ROMBUNNO.1D2-12  発行年: 2020年03月05日 
JST資料番号: S0493B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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金属内包シリコンケージナノクラスター(M@Si16)は16個のSi原子でできたカゴの中心に金属原子が内包された構造をしており,内包金属を変えると格子定数を保持したまま電子状態が変化するため電子デバイスとしての応用が期待される.本研究では精密に合成されたM@Si16の集積薄膜を作製し,電流・電圧(I-V)測定を行った.I-V特性の温度依存性からM@Si16集積薄膜の電気伝導機構を明らかにした.(著者抄録)
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分類 (3件):
分類
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分子化合物  ,  原子・分子のクラスタ  ,  その他の無機化合物の電気伝導 
タイトルに関連する用語 (5件):
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