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J-GLOBAL ID：202002218813599667   整理番号：20A0991816

放射光X線回折を用いたτ型有機伝導体の構造解析

Structure Analysis of τ-type Molecular Conductor Using Synchrotron X-ray Diffraction

著者 (5件)： 原武史 (名古屋大 工) ,  鬼頭俊介 (名古屋大 工) ,  片山尚幸 (名古屋大 工) ,  吉野治一 (大阪市大 大学院) ,  澤博 (名古屋大 工)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 75  号： 1  ページ： ROMBUNNO.16pPSB-139  発行年： 2020年03月23日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： X線回折 ,  *有機伝導体 ,  *X線構造解析 ,  X線散漫散乱 ,  電子系 ,  放射光X線回折 ,  二次元電子系

分類 (1件)： 有機化合物の電気伝導  (BM03045F)

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射光X線回折 ,  型 ,  有機伝導体 ,  構造解析