抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本論文では,スペックルビーム指向シュリーレン(SBOS)と二重焦点SBOSと呼ぶ先進バックグラウンド指向シュリーレン(BOS)法を紹介している。SBOSは,バックグラウンド画像の強度が高レベルで維持されるので,放射発光による高速現象および/または現象を診断するのに有用である。二重焦点SBOSを用いて,不確かな位置および/または広い範囲を有するシュリーレン物体における屈折角および屈折角の深さ位置を測定することができる。(翻訳著者抄録)