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J-GLOBAL ID：202202280741936714   整理番号：22A1149106

高周波磁気デバイス設計のためのリッツ線の最新銅損解析モデル

Progress of Litz Wire Copper Loss Model for Designing High-Frequency Magnetic Devices

著者 (4件)： 梅谷和弘 (岡山大) ,  川原翔太 (岡山大) ,  石原將貴 (岡山大) ,  平木英治 (岡山大)
資料名： 電気学会全国大会講演論文集(CD-ROM)  (Annual Meeting Record, I.E.E. Japan (CD-ROM))
巻： 2022  ページ： ROMBUNNO.S13-5  発行年： 2022年03月01日 
JST資料番号： S0653B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・本稿は,リッツ線の銅損解析モデルに関する先行研究の成果を整理し,構築した新しい銅損解析の原理と使い方を解説。
・高周波用磁気デバイスには銅損低減のため巻線にリッツ線を用いることが多いが,多数の素線をより合わせる構造のため数値計算による銅損の算出は現代でも困難。
・スパイラル空芯コイルに本稿の銅損解析モデルを適用した事例から,コイルの交流抵抗の計測結果と銅損モデルによる予測結果はよく一致していることを確認。
・提案モデルによるリッツ線を用いた巻線やコイルの銅損推定が,実際の磁気デバイスに対して利用可能であることを示唆。

シソーラス用語： 磁性部品 ,  巻線 ,  *抵抗損 ,  *解析モデル ,  インダクタ ,  周波数 ,  スイッチングレギュレータ ,  *撚線
準シソーラス用語： スイッチング周波数 ,  磁気デバイス

分類 (1件)： LCR部品  (NA05030D)

引用文献 (5件)：

• J. Acero et al.:IEEE Trans. Power Electron., 21, 4, 856~866 (2006)
• C. R. Sullivan, R. Y. Zhang:Proc. COMPEL, 1~10 (2014)
• K. Umetani et al.:IEEE Trans. Ind. Appl., 57, 3, 2407~2420 (2021)
• S Hiruma, H Igarashi:IEEE Trans. Magn., 53, 6, 7000704 (2017)
• S. Kawahara et al.:Proc. ICEMS, 1541~1546 (2020)

タイトルに関連する用語 (5件)： 高周波 ,  磁気デバイス ,  設計 ,  銅損 ,  解析モデル