特許
J-GLOBAL ID：202203020765975122
パラメータ推定装置、方法、及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人太陽国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2019-039694
公開番号（公開出願番号）：特開2020-144530
特許番号：特許第7124768号
出願日： 2019年03月05日
公開日（公表日）： 2020年09月10日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 入力データの次元数である入力データ次元数と、前記入力データ次元数よりも低次元の低次元化次元数と、並列数とに基づいて、前記並列数分だけ、前記入力データ次元数で定義される空間を、前記低次元化次元数で定義される空間に変換するための変換行列を決定することにより、前記並列数分の探索範囲を決定する探索範囲決定部と、 前記並列数分の探索範囲の各々について、 前記探索範囲において、前記探索範囲から選んだパラメータおよび前記変換行列から得られる入力データを、予め与えられた観測値に関する目的関数値を出力する所定の装置に入力し、目的関数値を取得することを所定の回数繰り返し、 前記目的関数値が最適となる前記パラメータおよび前記変換行列から得られる、前記目的関数値を求めることを所定の回数繰り返すことを、並列に実行する最適化実行部と、 前記探索範囲の各々について求められた目的関数値の各々に基づいて、前記目的関数値が最適となる前記パラメータ及び前記変換行列から得られる、最適な入力パラメータを決定する最適値決定部と、 を含むパラメータ推定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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