抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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我々の研究室では,先行研究により,着磁したREBCO線材の磁気計測より素線の電界-電流密度(E-J)特性を非破壊・非接触に計測できることを報告している。本方法により,四端子法の適用が難しくなる低温の高Ic領域の特性も計測可能な事を示している。本研究では,本手法をさらに積層したREBCO線材の評価に適用し,E-J特性の導出について検討した。この場合,磁気像からJを導出する際の逆問題において,まず積層した試料における超伝導層の厚さを考慮する必要が出てくる。また,電界の評価においても鎖交磁束に対する膜厚の効果を考慮する必要がある。本研究では,膜厚方向の均一性を仮定した逆問題の解析により磁化電流密度を導出すると共に,電界の評価において,磁気顕微鏡による実測結果と解析的手法により線材磁化を元に導出する場合とを比較し,形状効果の補正法の妥当性を検証した。以上により,積層した線材の磁化測定の結果をもとに,膜厚を有する積層REBCO線材のE-J特性の導出法を明らかとした。(著者抄録)