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J-GLOBAL ID:202402242745646853   整理番号:24A2703380

ゲートソース間容量の電圧依存性の測定に基づいたモデリングによるスイッチング損失推定精度向上

Modeling based on measurement of voltage dependence of gate-source capacitance to improve accuracy of switching loss estimation
著者 (7件):
資料名:
巻: 2024  ページ: ROMBUNNO.1-41  発行年: 2024年 
JST資料番号: L2177B  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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本論文では,放熱部品最適化に必要なスイッチング損失の推定に対する半導体デバイスのゲートソース間の寄生容量の正確なモデリングの重要性を論じた。著者らは,ゲート-ソース静電容量のゲート-ソース電圧依存性に焦点を合わせて,それは過去にほとんど注目を受けなくて,初めて高いドレイン電圧を有するその特性を測定した。提案した測定法は,ドレイン電圧の有無による特性の有意差を明らかにした。この新しい知識を組み込んだモデルをSPICEシミュレーションに適用することにより,ターンオンスイッチング損失のより正確な推定を成功裏に達成し,それによって提案方法の有効性を検証した。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
継電器・スイッチ  ,  トランジスタ 

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