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J-GLOBAL ID：202502216975074527   整理番号：25A2800824

電磁非破壊試験の進展 フラックストランスフォーマを用いた渦電流探傷試験

Eddy Current Testing Using a Flux Transformer

著者 (1件)： 笹山瑛由 (九大)
資料名： 非破壊検査  (Journal of JSNDI)
巻： 74  号： 11  ページ： 438-442  発行年： 2025年11月01日 
JST資料番号： G0027A  ISSN： 0367-5866  CODEN： HIHKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・金属表面の傷の非破壊検査法として,渦電流探傷試験(ECT)が広く利用されているが,本稿では,超伝導量子干渉素子(SQUID)を用いたフラックストランスフォーマを用いた方法を紹介。
・脳磁計など生体計測に用いられる高温超伝導SQUIDや,それに磁気結合するために入力コイルを用いる磁気結合回路の構成法の1つであるフラックストランスフォーマ(磁束トランス)を説明。
・その磁気インピーダンス効果(MI)センサへの適用,および高感度な光ポンピング磁気センサ(OPM)への適用とそれらを用いたECTの実験により,種々の高感度磁気センサに対する適用性を確認。

シソーラス用語： *非破壊検査 ,  渦電流検査 ,  金属表面 ,  SQUID ,  脳磁計 ,  生体計測 ,  高温超伝導 ,  磁気結合 ,  磁束 ,  電流磁気効果 ,  光ポンピング ,  磁気センサ ,  高感度
準シソーラス用語： トランスフォーマー ,  フラックストランスファーイベント ,  *渦電流探傷試験 ,  磁気インピーダンス効果 ,  *超伝導量子干渉素子 ,  非破壊試験

分類 (5件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  金属系超伝導体の物性  (BM04022R) ,  電磁気的量の計測一般  (AD07010R) ,  磁気の計測法・機器  (AD07060U) ,  R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N)

タイトルに関連する用語 (3件)： 非破壊試験 ,  進展 ,  渦電流探傷試験