特許
J-GLOBAL ID：202503005834820716
解析装置、解析方法、及びプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉村 憲司
, 岡野 大和
, 北村 慎吾
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：JP2021021085
特許番号：特許第7606140号
出願日： 2021年06月02日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 構造評価対象物の点群データを生成する解析装置であって、 レーザースキャナにより計測された構造評価対象領域の点群データを入力する3D点群データ入力部と、 前記点群データから、構造評価対象物以外の点群データを除去する第1解析部と、 前記第1解析部によって前記構造評価対象物以外の点群データが除去された後の、前記構造評価対象領域の点群データから、構造評価に必要な箇所の点群データを抽出する第2解析部と、を備え、 前記第1解析部は、前記点群データの断面線形から、前記構造評価対象領域の内部に設置された付属物で隠れている構造評価対象物の断面線形を推定して、前記構造評価対象領域の点群データから、該推定した断面線形を前記構造評価対象物の進行方向に伸長した領域の内部の点群データを除去する、解析装置。
IPC (2件)：
G01S 17/89 ( 202 0.01)
, G01N 17/00 ( 200 6.01)
