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J-GLOBAL ID：202602268030742740   整理番号：26A0211937

計測インフォマティクスが拓く新たな展開-電子顕微鏡計測を中心に-

Pioneering New Directions in Metrology Informatics-Focusing on Electron Microscopy-

著者 (6件)： 冨谷茂隆 (奈良先端科学技術大学院大 データ駆動型サイエンス創造セ) ,  冨谷茂隆 (奈良先端科学技術大学院大) ,  赤瀬善太郎 (奈良先端科学技術大学院大 データ駆動型サイエンス創造セ) ,  赤瀬善太郎 (奈良先端科学技術大学院大) ,  岩満一功 (奈良先端科学技術大学院大) ,  岩満一功 (奈良先端科学技術大学院大 データ駆動型サイエンス創造セ)
資料名： 薄膜・表面物理基礎講座(Web)
巻： 54th  ページ： WEB ONLY  発行年： 2025年 
JST資料番号： L4649B  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・本稿では,計測インフォマティクスの枠組みに基づき,電子顕微...

シソーラス用語： *計測 ,...
準シソーラス用語： インフォマティクス ,...

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分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  人工知能  (JE08000Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 計測 ,  インフォマティクス ,  展開 ,  電子顕微鏡