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J-GLOBAL ID：202602291264901529   整理番号：26A0761743

「顕微鏡法による材料開発のための微細構造研究最前線(12)」~材料科学・材料工学の基礎基盤技術としての顕微鏡法~(11)半導体 窒化物半導体ナノ構造のSEM-CLスペクトルイメージングおよび波長角度分解測定

Spectral Imaging and Wavelength- and Angle-Resolved SEM-CL of Nitride Semiconductor Nanostructures

著者 (5件)： 宇佐美翔太 (奈良先端科学技術大学院大) ,  赤瀬善太郎 (奈良先端科学技術大学院大) ,  岩満一功 (奈良先端科学技術大学院大) ,  横川俊哉 (奈良先端科学技術大学院大) ,  冨谷茂隆 (奈良先端科学技術大学院大)
資料名： まてりあ(Web)  (Materia Japan (Web))
巻： 65  号： 1  ページ： 22(J-STAGE)  発行年： 2026年01月01日 
JST資料番号： F0163B  ISSN： 1884-5843  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・窒化ガリウム(GaN)を代表とする窒化物半導体は,照明や光...

シソーラス用語： *窒化物半導体 ,...
準シソーラス用語： GaN ,...

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分類 (2件)： 顕微鏡法  (BK01040E) ,  発光素子  (NC03082G)

タイトルに関連する用語 (16件)： 顕微鏡法 ,  開発 ,  微細構造 ,  研究 ,  材料科学 ,  材料工学 ,  基礎 ,  基盤技術 ,  窒化物半導体 ,  ナノ構造 ,  SEM ,  Cl ,  スペクトル ,  イメージング ,  波長 ,  分解