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J-GLOBAL ID:200902265065096175   整理番号:09A0910730

SF6中の電極-エポキシ界面に存在する微少ギャップにおける表面電荷の蓄積並びに部分放電現象

Surface Charge Accumulation and Partial Discharge Activity for Small Gaps of Electrode/Epoxy Interface in SF6 Gas
著者 (5件):
資料名:
巻: 16  号:ページ: 1150-1157  発行年: 2009年08月 
JST資料番号: W0578A  ISSN: 1070-9878  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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GIS中の固体スペーサの絶縁信頼性は安全運転上極めて重要であるが,絶縁システムの総合的性能を低下させる最も重要な要因として電荷蓄積現象が挙げられる。この観点から本文ではGIS固体スペーサの弱点部位の一つである電極-エポキシ界面に存在する微少ギャップにおける電荷蓄積に対する交流電圧印加による部分放電(PD)の影響について検討した。実際のスペーサを模擬した種々のギャップ寸法(50~500μm)に対して蓄積電荷無しの状態,並びにPDを連続して発生させた後の部分放電開始電圧(PDVI0およびPDVI1)を測定した。蓄積電荷によってPDパルス数が増加し,PDIVが上昇することが認められた。表面電荷密度を,境界方程式を用いて求めギャップ長との関係を調べた。ギャップ長が小さくなると蓄積電荷密度が増大するという結果が得られた。蓄積電荷とPD各パラメータの関係を検討した結果,負及び性PDパルスの数が電荷蓄勢状態を示す主なパラメータであることが明らかとなった。
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