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J-GLOBAL ID:200902272875852606   整理番号:09A0741173

強磁場X線粉末カメラの開発

著者 (5件):
資料名:
巻: 2008  ページ: 192-193  発行年: 2009年06月 
JST資料番号: X0986A  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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強磁性形状記憶合金や磁気冷凍材料の磁場を利用した機能性材料の開発においては,磁性と結晶構造との関係の解明が重要である。そのような研究には,強磁場X線回折が有用である。そのような状況から,本研究では5T以上の強磁場下で使用する強磁場中X線粉末カメラを開発し,その性能の試験のためにいくつかの測定を行った。汎用の無冷媒超伝導マグネット中で測定可能な強磁場中X線粉末カメラを開発した。0~10Tの磁場中で測定した粉末Siおよび強磁性体MnBiの回折パターンの結果を示した。
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分類 (1件):
分類
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X線回折法 
タイトルに関連する用語 (4件):
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