特許

J-GLOBAL ID：201003081548588584

表面増強ラマン分光法、及び当該表面増強ラマン分光法を可能にする微細構造体

発明者： 池田 勝佳 ,  魚崎 浩平 ,  猶原 秀夫
出願人/特許権者： 国立大学法人 北海道大学 ,  トヨタ自動車株式会社
代理人 (3件)： 岸本 達人 ,  星野 哲郎 ,  山下 昭彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-187487
公開番号（公開出願番号）：特開2010-025753
出願日： 2008年07月18日
公開日（公表日）： 2010年02月04日
要約：

【課題】表面増強ラマン分光法、及び当該表面増強ラマン分光法を可能にする微細構造体を提供する。【解決手段】分析対象基板の表面に光を照射し、前記光の当該表面における散乱光を分光することにより前記散乱光のスペクトルを得る表面増強ラマン分光法であって、前記分析対象基板の表面には被膜が形成され、且つ、当該被膜の上方には金属ナノ粒子が配置され、且つ、前記被膜が、前記分析対象基板と前記金属ナノ粒子とのギャップを形成し、且つ、前記分析対象基板の、前記金属ナノ粒子が配置された面に光を照射することにより、前記分析対象基板と前記被膜との界面を観察することを特徴とする、表面増強ラマン分光法。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

分析対象基板の表面に光を照射し、前記光の当該表面における散乱光を分光することにより前記散乱光のスペクトルを得る表面増強ラマン分光法であって、 前記分析対象基板の表面には被膜が形成され、且つ、当該被膜の上方には金属ナノ粒子が配置され、且つ、前記被膜が、前記分析対象基板と前記金属ナノ粒子とのギャップを形成し、且つ、 前記分析対象基板の、前記金属ナノ粒子が配置された面に光を照射することにより、前記分析対象基板と前記被膜との界面を観察することを特徴とする、表面増強ラマン分光法。

IPC (1件)：

G01N 21/65

FI (1件)：

G01N21/65

Fターム (8件)：

2G043AA03 ,  2G043CA07 ,  2G043EA03 ,  2G043FA06 ,  2G043HA01 ,  2G043JA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 微細構造体、微細構造体の作製方法、ラマン分光法、及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-334794   出願人：富士フイルム株式会社