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J-GLOBAL ID：201302259153313006   整理番号：13A0622367

2次元検出器による内部応力評価法

著者 (4件)： 鈴木賢治 (新潟大 教育) ,  菖蒲敬久 (日本原子力研究開発機構) ,  城鮎美 (徳島大 大学院) ,  豊川秀訓 (高輝度光科学研究セ)
資料名： 日本機械学会M&M材料力学カンファレンス(CD-ROM)  (日本機械学会M&M材料力学カンファレンス講演論文集(CD-ROM))
巻： 2011  ページ： ROMBUNNO.OS0201  発行年： 2011年 
JST資料番号： L0191B  ISSN： 2424-2845  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 2次元検出器に対応した回転スリットを開発し,放射光施施で一連の基礎的実験を行った。その結果,回転スリットを利用して粗大粒の内部応力を測定することができた。さらに,試料表面または粗大粒による表面効果があり,粗大粒による表面効果の対策としてDST法は有効であった。(著者抄録)

シソーラス用語： *残留応力 ,  X線 ,  応力解析 ,  アルミニウム ,  *内部応力 ,  S45C ,  *シンクロトロン放射 ,  光学スリット
準シソーラス用語： 実験研究 ,  粗大粒子 ,  *放射光

分類 (2件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F) ,  金属の機械的性質  (BL01022T)

タイトルに関連する用語 (4件)： 2次元 ,  検出器 ,  内部応力 ,  評価法