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J-GLOBAL ID：201402234184331120   整理番号：14A0706660

高い横方向分解能の質量イメージング分析法に使う集束した高質量クラスタイオン源の新しいSIMSシステム

Novel SIMS system with focused massive cluster ion source for mass imaging spectrometry with high lateral resolution

著者 (11件)： MATSUO Jiro (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  MATSUO Jiro (JST-CREST, Tokyo, JPN) ,  TORII Souta (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  YAMAUCHI Kazuki (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  WAKAMOTO Keisuke (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  KUSAKARI Masakazu (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  NAKAGAWA Shunichiro (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  FUJII Makiko (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  AOKI Takaaki (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SEKI Toshio (Kyoto Univ., Kyoto, JPN) ,  SEKI Toshio (JST-CREST, Tokyo, JPN)
資料名： Applied Physics Express  (Applied Physics Express)
巻： 7  号： 5  ページ： 056602.1-056602.3  発行年： 2014年05月 
JST資料番号： F0599C  ISSN： 1882-0778  CODEN： APEPC4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 二次イオン質量分析法(SIMS)に使うクラスタイオンビームが最近開発されて,有機・生物材料の分子深さプロファイリングと質量イメージングを実現することが可能になった。高質量Arクラスタビームは低い表面損傷とフラグメンテーションイオン発生を見せ,SIMS用の1次ビームに適している。著者らは最近,微細に集束した高質量な1.2μm直径のクラスタイオンビームを得て,これを直交加速飛行時間質量分析計と組合せた。リン脂質薄膜のメッシュパターンが,100sの測定時間で分子イオンの質量像に明瞭に再現された。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  イオンビーム ,  深さ分析 ,  アルゴン ,  照射損傷 ,  フラグメンテーション ,  脂質膜 ,  画像処理 ,  時間 ,  イオン源 ,  質量分析計
準シソーラス用語： *クラスタイオンビーム ,  リン脂質膜 ,  *質量分析画像 ,  測定時間

分類 (1件)： 質量分析  (CC03013N)

引用文献 (25件)：

• I. Yamada, G. H. Takaoka, M. I. Current, Y. Yamashita, and M. Ishi, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 74, 341 (1993).
• I. Yamada, J. Matsuo, N. Toyoda, and A. Kirkpatrick, Mater. Sci. Eng. R 34, 231 (2001).
• J. Matsuo, D. Takeuchi, A. Kitani, and I. Yamada, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 112, 89 (1996).
• T. Aoki, J. Matsuo, Z. Insepov, and I. Yamada, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 121, 49 (1997).
• T. Seki, J. Matsuo, G. H. Takaoka, and I. Yamada, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 206, 902 (2003).

タイトルに関連する用語 (8件)： 横方向 ,  分解能 ,  質量 ,  イメージング ,  分析法 ,  集束 ,  クラスタイオン ,  SIMS