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J-GLOBAL ID：201602218195954452   整理番号：16A0607623

アルゴンガスクラスタイオン衝撃下のロイシンとイソロイシンからの二次イオン放出

Secondary ion emission from leucine and isoleucine under argon gas-cluster ion bombardment

著者 (6件)： Gnaser Hubert (Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Gokasho, Uji, Kyoto 611-0011, Japan and Department of Physics and Research Center OPTIMAS, University of Kaiserslautern, D-67663 Kaiserslautern, Germany) ,  Kusakari Masakazu (Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Gokasho, Uji, Kyoto 611-0011, Japan) ,  Fujii Makiko (Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Gokasho, Uji, Kyoto 611-0011, Japan) ,  Seki Toshio (Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Gokasho, Uji, Kyoto 611-0011, Japan and SENTAN, Japan Science and Technology Agency (JST), Chiyoda, Tokyo 102-0075, Japan) ,  Aoki Takaaki (Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Gokasho, Uji, Kyoto 611-0011, Japan and SENTAN, Japan Science and Technology Agency (JST), Chiyoda, Tokyo 102-0075, Japan) ,  Matsuo Jiro (Quantum Science and Engineering Center, Kyoto University, Gokasho, Uji, Kyoto 611-0011, Japan and SENTAN, Japan Science and Technology Agency (JST), Chiyoda, Tokyo 102-0075, Japan)
資料名： Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena  (Journal of Vacuum Science & Technology. B. Nanotechnology and Microelectronics: Materials, Processing, Measurement, and Phenomena)
巻： 34  号： 3  ページ： 03H102-03H102-5  発行年： 2016年05月 
JST資料番号： E0974A  ISSN： 2166-2746  CODEN： JVTBD9  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 10keVのアルゴンガスクラスタイオンAr₁₀₀₀⁺による衝撃下のイソロイシン,ロイシン試料からスパッタしたイオンの放出を,その質量スペクトル内の特定の違いによりこれらのアミノ酸の識別可能性を検討する試みにおいて,直交飛行時間型二次イオン質量分析法により調べた。別にプロトン化分子イオン(M+H)⁺は別として,1価と2価の分子クラスタイオン,(M_n+H)⁺(1≦N≦15)と(M_n+2H)²⁺(8≦N≦29)を観測した。クラスタ収率の分布Y_nは,それらのサイズの関数として,両方のアミノ酸で非常に良く似ていることが分った。また,放出されたフラグメントと他のイオン種の割合は典型的に低く,イソロイシンとロイシンに対して明瞭な違いは検出されなかった。従って,本データは,質量分析を通したイソロイシンとロイシンの識別は不可能であることを示しているように見える。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： クラスタイオン ,  イオン衝突 ,  *二次イオン質量分析 ,  質量スペクトル ,  脂肪族アミン ,  脂肪族カルボン酸 ,  分枝鎖アミノ酸 ,  第一アミン
準シソーラス用語： *TOF-SIMS ,  イオン衝撃

分類 (1件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A)

物質索引 (2件)： イソロイシン ,  ロイシン

タイトルに関連する用語 (6件)： アルゴンガス ,  クラスタ ,  イオン衝撃 ,  ロイシン ,  イソロイシン ,  二次イオン放出