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J-GLOBAL ID：201602275744099310   整理番号：16A0814374

高解像度走査型電気化学顕微鏡の開発

著者 (1件)： 高橋康史 (金沢大)
資料名： 化学と工業  (Chemistry & Chemical Industry)
巻： 69  号： 9  ページ： 777-778  発行年： 2016年09月01日 
JST資料番号： F0107A  ISSN： 0022-7684  CODEN： KAKTAF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査型電気化学顕微鏡(SECM)は,微小電極により試料表面を走査し,局所的な酸化還元物質由来の電流と位置情報から電流イメージを取得できるため,生体分子から触媒材料,電池材料に至るまで幅広く応用されてきた。筆者らは,SECMの課題とされてきた空間分解能の向上をはかるため,走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)の位置制御技術や,ナノスケールの電極の作製法を独自に開発してきた。本稿では,ナノ電極の作製法とSICMの計測原理,高解像度SECMの応用研究に関して紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *走査型プローブ顕微鏡 ,  顕微鏡観察 ,  電気化学 ,  高分解能 ,  技術開発 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  ナノ構造 ,  空間分解能 ,  *微小電極 ,  位置制御 ,  位置情報 ,  応用研究 ,  酸化還元反応
準シソーラス用語： *ナノ電極 ,  走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  *走査型電気化学顕微鏡

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  電気化学反応  (CB07050F)

引用文献 (5件)：

• A. J. Bard, F. R. F. Fan, J. Kwak, O. Lev, Anal. Chem. 1989, 61, 132.
• a) Y. Takahashi, et al., Angew. Chem. Int. Ed. 2011, 50, 9638 ; b) Y. Takahashi, et al., Proc. Natl. Acad. Sci. U. S. A. 2012, 109, 11540.
• A. I. Shevchuk, et al., Angew. Chem. Int. Ed. 2006, 45, 2212.
• a) Y. Takahashi, et al., J. Am. Chem. Soc. 2010, 132, 10118 ; b) M. Sen, et al., Anal. Chem. 2015, 87, 3484 ; c) P. Actis, et al., Acs Nano 2014, 8, 875.
• Y. Zhang, et al., Acs Nano 2016, 10, 3214.

タイトルに関連する用語 (3件)： 高解像度 ,  走査型電気化学顕微鏡 ,  開発