特許
J-GLOBAL ID：201603015991403181
測定用チップ、測定装置、および測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
特許業務法人 楓国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-035426
公開番号（公開出願番号）：特開2016-156727
出願日： 2015年02月25日
公開日（公表日）： 2016年09月01日
要約：
【課題】従来よりも高感度な測定用チップ、当該測定用チップが配置される測定装置、および当該測定用チップを用いた測定方法を提供する。【解決手段】誘電体11の中心位置には、孔13が省かれた(孔13が形成されていない)箇所である特異パターン12が設けられている。特異パターン12は、周期配列とは異なる配列態様となっている箇所である。孔13による周期構造は、特定の波長域(例えば620nm〜680nm)の光を反射する鏡として機能する。ここで、特異パターン12は、このような鏡に囲まれた空間として機能する。これにより、特異パターン12は、特定の波長の光を共振させる共振器として機能する。したがって、チップ1に光を照射すると、特異パターン12から特定の波長域の光のみを非常に高いSN比で出射させることができる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
誘電体からなる測定用チップであって、
前記誘電体は、所定のパターンが周期配列された周期構造を有するフォトニック結晶であり、
前記フォトニック結晶は、一部に、前記周期配列とは異なる配列態様となっている特異パターンが形成されている測定用チップ。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
2G059AA01
, 2G059AA05
, 2G059BB06
, 2G059CC17
, 2G059DD12
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059FF08
, 2G059GG01
, 2G059GG04
, 2G059HH02
, 2G059JJ13
, 2G059JJ19
, 2G059KK01
, 2G059MM04
, 2G059MM05
, 2G059MM10
, 2G059MM12
