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J-GLOBAL ID：201702279112321732   整理番号：17A0606693

J-PARC muon g-2/EDM実験:シリコンストリップ検出器の性能評価試験

著者 (40件)： 西村昇一郎 (東大 理) ,  西村昇一郎 (Open-It) ,  池田博一 (Open-It) ,  池田博一 (JAXA) ,  池野正弘 (Open-It) ,  池野正弘 (KEK 素核研) ,  伊藤拓実 (九大 理) ,  上野一樹 (Open-It) ,  上野一樹 (KEK 素核研) ,  内田智久 (Open-It) ,  内田智久 (KEK 素核研) ,  川越清以 (九大 理) ,  久米達哉 (KEK 機械工セ) ,  高力孝 (Open-It) ,  高力孝 (KEK 素核研) ,  齊藤直人 (KEK 素核研) ,  佐々木修 (Open-It) ,  佐々木修 (KEK 素核研) ,  佐藤優太郎 (Open-It) ,  佐藤優太郎 (KEK 素核研) ,  庄子正剛 (Open-It) ,  庄子正剛 (KEK 素核研) ,  調翔平 (Open-It) ,  調翔平 (九大 理) ,  末原大幹 (Open-It) ,  末原大幹 (九大 理) ,  田中真伸 (Open-It) ,  田中真伸 (KEK 素核研) ,  東城順治 (Open-It) ,  東城順治 (九大 理) ,  長澤翼 (Open-It) ,  長澤翼 (九大 理) ,  真玉将豊 (Open-It) ,  真玉将豊 (九大 理) ,  三部勉 (Open-It) ,  三部勉 (KEK 素核研) ,  村上武 (Open-It) ,  村上武 (KEK 素核研) ,  吉岡瑞樹 (Open-It) ,  吉岡瑞樹 (九大 RCAPP)
資料名： 日本物理学会講演概要集(CD-ROM)  (日本物理学会春季大会講演概要集(CD-ROM))
巻： 72  号： 1  ページ： ROMBUNNO.17pA12-8  発行年： 2017年03月21日 
JST資料番号： S0671C  ISSN： 2189-079X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *μ粒子 ,  *放射線検出器 ,  *性能評価 ,  *検出器 ,  *双極子モーメント
準シソーラス用語： ミューオン ,  シリコン検出器 ,  飛跡検出器 ,  電気双極子モーメント

分類 (2件)： レプトン  (BF04040K) ,  放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (8件)： J-PARC ,  EDM ,  実験 ,  シリコン ,  ストリップ ,  検出器 ,  性能評価 ,  試験