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J-GLOBAL ID：201702291529343255   整理番号：17A0848158

XFEL用集光光学系のための精密波面計測法の開発

著者 (12件)： 井上陽登 (大阪大) ,  松山智至 (大阪大) ,  川合蕉吾 (大阪大) ,  湯本博勝 (高輝度光科学研究セ) ,  犬伏雄一 (高輝度光科学研究セ) ,  小山貴久 (高輝度光科学研究セ) ,  登野健介 (高輝度光科学研究セ) ,  大橋治彦 (高輝度光科学研究セ) ,  大坂泰斗 (高輝度光科学研究セ) ,  矢橋牧名 (理研 播磨研) ,  石川哲也 (理研 播磨研) ,  山内和人 (大阪大)
資料名： 精密工学会関西地方定期学術講演会講演論文集  (精密工学会関西地方学術講演会講演論文集)
巻： 2017  ページ： 102-103  発行年： 2017年06月29日 
JST資料番号： L6024A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： X線自由電子レーザ(XFEL:X-ray Free Electron Laser)は超高ピーク強度を有しているが,さらに高光子密度を実現するには集光技術が必要不可欠である。X線集光素子が作る集光波面を正確に計測し,適切に改善できれば理想的な集光が実現できる。以前の波面計測の結果はカメラによって異なっていた。我々は新たに,カメラ由来のシステムエラーを取り除く手法を提案した。導入の結果,システムエラーは大幅に低減することに成功し,さらに,ミラーの形状修正に成功した。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線自由電子レーザ ,  *集光 ,  *光学系 ,  *波面 ,  *精密測定 ,  光子 ,  ビーム ,  干渉計 ,  干渉縞 ,  回折格子 ,  カメラ ,  *光学的測定
準シソーラス用語： 光子密度 ,  X線ナノビーム ,  Talbot効果 ,  グレーチング干渉計

分類 (2件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S) ,  その他のレーザ  (BD04090H)

タイトルに関連する用語 (6件)： XFEL ,  集光光学系 ,  精密 ,  波面 ,  計測法 ,  開発