文献

J-GLOBAL ID：201902226200983887   整理番号：19A1303586

ノイズ源振幅変調と相関解析に基づくノイズ源IC毎の電磁妨害波強度推定

Intensity Estimation of Electromagnetic Emission from Individual ICs Based on Noise Source Amplitude Modulation and Correlation Analysis

著者 (4件)： 吉野慎平 (岡山大学大学院自然科学研究科) ,  五百旗頭健吾 (岡山大学大学院自然科学研究科) ,  矢野佑典 (岡山大学大学院自然科学研究科) ,  豊田啓孝 (岡山大学大学院自然科学研究科)
資料名： エレクトロニクス実装学会誌  (Journal of Japan Institute of Electronics Packaging)
巻： 22  号： 3  ページ： 218-225(J-STAGE)  発行年： 2019年 
JST資料番号： S0579C  ISSN： 1343-9677  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： EMI対策および評価コストの削減を目的として,ノイズ源IC毎の放射強度推定法を提案する。この手法はEMI発生要因の1つであるスイッチング電流を振幅変調し,その時の電磁妨害波の時間変化を観測することで得られるノイズ源強度比から各ICの放射強度を推定する。本論文では,プリント回路板に提案手法を適用し,遠方界放射から複数ICによる放射の強度を算出,さらにIC個別に駆動した測定結果と比較し推定精度を評価した。その結果,各ICに起因する放射が同相と見なせる場合に放射強度を高い精度で推定可能であることを示した。(著者抄録)

シソーラス用語： *集積回路 ,  *雑音発生器 ,  *電磁干渉 ,  振幅変調 ,  統計解析 ,  放射強度 ,  回路試験 ,  プリント基板
準シソーラス用語： 相関解析

著者キーワード (5件)： EMI ,  Noise Source Amplitude Modulation ,  Correlation Analysis ,  PRBS ,  Zero-Span Measurement

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  雑音一般  (ND04010J)

引用文献 (13件)：

• 1) IEC Test Standard: "Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods," CISPR 16, Ed. 1.0, 2015
• 2) IEC Test Standard: "Information Technology Equipment - Radio Disturbance Characteristics - Limits and Methods of Measurement," CISPR 22, Ed. 4.0, 2016
• 3) IEC Test Standard: "Electromagnetic compatibility of multimedia equipment - Emission requirements," CISPR 32, Ed. 2.0, 2015
• 4) W. Pan and D. Pommerenke: "EMI Failuer Analysis Techniques: I. Frequency Spectrum Analysis," IEEE EMC Society Newsletters, Vol. 223, pp. 65-70, 2009
• 5) G. Feng, W. Wu, D. Pommerenke, J. Fan, and D. G. Beetner: "Time synchronized near-field and far-field for EMI source identification," Proceedings of 2008 IEEE Int. Symp. Electromagn. Compat., 1195-1199, 2008

タイトルに関連する用語 (6件)： ノイズ源 ,  振幅変調 ,  相関解析 ,  IC ,  妨害波 ,  強度推定