ノイズ源振幅変調に基づくIC毎の遠方界放射強度および位相推定

五百旗頭健吾; 吉野慎平; 矢野佑典; 豊田啓孝

文献

J-GLOBAL ID：201902278312365582 整理番号：19A1696663

ノイズ源振幅変調に基づくIC毎の遠方界放射強度および位相推定

Intensity and Phase Estimation of Far-Field Emission of Individual ICs by Using Noise Source Amplitude Modulation Technique

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巻： 119 号： 20(EMCJ2019 13-17)(Web) ページ： 19-24 (WEB ONLY) 発行年： 2019年05月03日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

製品設計時や規格試験不適合時に電磁妨害波(EMI)の主要なノイズ源となっている半導体デバイスを低コストで効率的に推定することを目的として,ノイズ源振幅変調を利用したノイズ源毎のEMI強度推定法を提案する。提案法により,EMI低減が必要な周波数においてノイズ源に変調を適用時のEMI強度変動を測定し,それを変調信号に関する知識に基づき解析することで,ノイズ源毎のEMI強度を推定できる。3個のラインドライバICが主要なノイズ源となっている評価プリント基板に対して提案手法を適用し,各ICに起因する遠方界放射強度推定精度を実験により検証した。ノイズ源振幅変調の変調信号には相互相関係数が0.07以下の擬似ランダム2値系列(PRBS)を使用した。提案法により推定した個別ICの放射強度を測定結果と比較した結果,1GHz以下において3dB以下の誤差で遠方界放射強度を推定できた。さらに各ICに起因する放射電界の位相関係を推定し,推定した放射強度と位相関係より算出した基板全体の放射強度が測定結果とよく一致した。以上より,提案法により各ノイズ源に起因するEMIの強度と位相関係を精度良く推定できることを示した。(著者抄録)

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雑音一般 , 信号理論

引用文献 (10件)：

G. Feng, W. Wu, D. Pommerenke, J. Fan, D. G. Beetner, “Time synchronized near-field and far-field for EMI source identification,” In Proc. IEEE Int. Symp. Electromagn. Compat., Aug. 2008.
Z. Li and D. Pommerenke, “EMI-Debugging of Complex System Using Different Time, Modulation, STFFT and Frequency Domain Signal Analysis Techniques,” In Proc. IEEE Int. Symp. Electromagn. Compat. pp. 607-611, 2005.
W. Pan and D. Pommerenke, “EMI Failure Analysis Techniques: I. Frequency Spectrum Analysis,” IEEE EMC Society Newsletters, vol. 223, pp. 65-70, 2009.
U. Paoletti, “On the Noise Path Determination with the Noise Source Modulation Technique,” 2017 AsiaPacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility (APEMC), Vol. 59, No. 5, pp. 1400-1407, 2017.
U. Paoletti, “The noise source modulation technique for the determination of electromagnetic noise path,” IEEE Trans. Electromagn. Compat., Vol. 59, No. 5, pp. 10-12, June 2017.

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