CdTe ピクセル検出器による応力評価の実証的研究

鈴木賢治; 城鮎美; 豊川秀訓; 佐治超爾; 菖蒲敬久

文献

J-GLOBAL ID：202002245782452738 整理番号：20A1603755

CdTe ピクセル検出器による応力評価の実証的研究

A Feasibility Study on X-Ray Stress Measurement with CdTe Pixel Detector

出版者サイト {{ this.onShowPLink() }} 複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=20A1603755&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=20A1603755&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=F0385A") }}

著者 (5件)： , , , ,
資料名：
巻： 69 号： 4 ページ： 293-299(J-STAGE) 発行年： 2020年
JST資料番号： F0385A ISSN： 0514-5163 CODEN： ZARYA 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

・本論文では,粗粒材料の歪を測定するためにシンクロトロン白色X線(DEM-WX)を用いた二重露光法を提案し,その実現可能性を調べた。X線回折をCdTeピクセル検出器で測定した。CdTeピクセル検出器は,閾値電圧を変えて光子エネルギーを解決できる。PbとW箔の特性X線を用いて検出器の各ピクセルを較正して,閾値X線エネルギーによる画像を得た。単色X線による回折画像のような差分画像を,閾値X線エネルギーによる画像間の差異によって計算することができた。曲げ試験片の材料は,粒径300μmのオーステナイト系ステンレス鋼であった。曲げ試験片の歪をDEM-WXを用いて測定し,その結果を歪ゲージで測定した歪と対応させた。(翻訳著者抄録)

, , , , , , , , , , , , ,
, , , , ,

著者キーワード (1件)：

金属材料

引用文献 (12件)：

1) P.J. Withers, “ Use of synchrotron X-ray radiation for stress measurement”, Analysis of Residual stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation, Ed. by M.E. Fitzpatrick and A. Lodini, Taylor & Francis, pp.170-218 (2003).
2) K. Suzuki, T. Shobu, A. Shiro and S. Zhang,“ Stress evaluation in material with coarse grains using area detector”, Journal of the Society of Materials Science, Japan, Vol. 63, No. 7, pp. 527-532 (2014).
3) K. Suzuki, T. Shobu and A. Shiro,“ Stress measurement of coarse grains using double exposure method”, Journal of the Society of Materials Science, Japan, Vol. 68, No. 4, pp. 312-317 (2019).
4) K. Suzuki, T. Shobu, A. Shiro and S. Zhang, “ Evaluation of welding residual stresses using diffraction spot trace method ”, Advanced Materials Research, Vol. 996, pp. 76-81 (2014).
5) J. Shibano, K. Kajiwara, T. Tsukamoto, H. Kawai, S. Miura, S. Zhang, T. Shobu and M. Kobayashi,“Evaluation of ductile damage progress of aluminum single crystal with prior activity of single slip system under tensile loading by using synchrotron white X-ray”, Material Science Forum, Vol. 777, pp. 176-181(2014).

, , , ,

前のページに戻る