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文献
J-GLOBAL ID:202002255507150242   整理番号:20A0844732

X線自由電子レーザーナノ集光システムの開発 格子干渉計を用いたX線波面計測法の検証

著者 (12件):
資料名:
巻: 2020  号: 春季(CD-ROM)  ページ: ROMBUNNO.G32  発行年: 2020年03月01日 
JST資料番号: Y0914A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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X線自由電子レーザーは超高ピーク輝度を有しており,更なる高度利用化に向けた集光技術の発展が望まれている.極限集光の達成には集光状態の把握が必須であり,我々はTalbot効果に基づく格子干渉計を用いたX線波面計測法の開発を行っている.本手法の信頼性を実証するため,縞走査法およびフーリエ変換法による解析についての比較を行った.またチェス盤回折格子を用いた2次元一括波面計測の検討結果について報告する.(著者抄録)
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分類 (1件):
分類
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X線技術 
引用文献 (5件):

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