繰返し硬さ試験による疲労寿命の簡易評価法の確立とその微小材料の疲労寿命の向上探索への応用

坂本惇司

文献

J-GLOBAL ID：202102227106537238 整理番号：21A0327855

繰返し硬さ試験による疲労寿命の簡易評価法の確立とその微小材料の疲労寿命の向上探索への応用

Simple Method for Evaluating Fatigue Life using Cyclic Hardness Test and Its Application to Small Materials

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資料名：
号： 34 12月ページ： 299-305 発行年： 2020年12月
JST資料番号： L5491A ISSN： 0919-3383 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：解説発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

情報デバイスや車内電子装置などの電子デバイスは,様々な応用に応じて様々な機能を持つことが最近要求されている。それらの中で,多くの電子デバイスには小型化と高信頼性が要求される。特に,それらのサイズと重量を減らすために,より小さな材料が必要である。一方,小材料の疲労破壊挙動は,通常のサイズの材料とは異なる。従って,それらの長期信頼性を確保するためには,マイクロ材料の疲れ寿命を評価することが重要である。しかし,材料のサイズによる小さな材料の疲れ試験を行うことは困難である。すなわち,小型材料の疲れ寿命の評価方法は確立されていない。したがって,本研究では,疲労試験中の材料変形と硬度試験の間の類似性に焦点を当てた。硬度試験を容易に行うことができる。本研究の目的は,繰返し硬度試験を用いて,小さな材料の疲れ寿命を評価する新しい方法を構築し,疲れ寿命を改善するために小さな材料にこの方法を適用することである。オーステナイト系ステンレス鋼SUS304を用いて疲れ亀裂成長試験と繰返し硬さ試験を行った。疲れ亀裂成長速度と応力拡大係数範囲の間の関係は,繰返し硬度試験における押込深さの変化を用いて簡単に評価できることが分かった。繰返し硬度試験を用いて疲れ寿命を容易に評価できることを示唆した。(翻訳著者抄録)

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固体デバイス計測・試験・信頼性

引用文献 (10件)：

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