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J-GLOBAL ID：202102288750569750   整理番号：21A0363981

放射光白色X線を用いたプロファイル法による応力測定

Stress Measurements using Profile Method with Synchrotron White X-Rays

著者 (6件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  城鮎美 (QST) ,  豊川秀訓 (JASRI) ,  豊川秀訓 (QST) ,  佐治超爾 (JASRI) ,  菖蒲敬久 (JAEA)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 54th  ページ： 5-8  発行年： 2020年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・放射光白色X線とCdTeピクセル検出器を用いて,二重露光法(DEM)による焼きばめ鋼の残留応力を測定し,斑点法とプロファイル法の精度について検討。
・SPring-8のビームラインを用い,X線エネルギーを70,90及び100keVとして,SUS304鋼(粒径約40μm)の焼きばめ残留応力をDEMにより測定。
・斑点法による円周方向歪と半径方向歪の求め方について述べ,やや粗大な粒を測定する場合には精度が得られないと説明。
・斑点法よりもやや粗大な粒の回折パターンに適したプロファイル法について説明し,この方法で求めた残留応力の測定結果は改善が見られると報告。

シソーラス用語： X線 ,  シンクロトロン放射 ,  ピクセル検出器 ,  輪郭 ,  多重露光 ,  非破壊測定 ,  *X線応力測定 ,  焼ばめ ,  *オーステナイト系ステンレス鋼 ,  *残留応力 ,  測定精度 ,  粒径 ,  半径方向 ,  残留歪 ,  結晶粒 ,  X線回折
準シソーラス用語： SUS304 ,  円周方向 ,  白色X線 ,  二重露光

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (7件)：

• K. Suzuki, T. Shobu and A. Shiro, “Stress measurement of coarse grains using double exposure method”, Journal of the Society of Materials Science, Japan, Vol. 68, No. 4, pp. 312-317 (2019).
• H. Toyokawa C. Saji, M. Kawase, K. Ohara, A. Shiro, R. Yasuda, T. Shobu, A. Suenaga and H. Ikeda, “Development of CdTe pixel detectors for energy-resolved X-ray diffractions”, Proceedings of the Second International Symposium on Radiation Detectors and Their Uses (ISRD2018), JPS Conf. Proc. 24, 011015 (2019).
• K. Suzuki, A. Shiro, H. Toyokawa, C. Saji, T. Shobu, “A feasibility study on X-ray stress measurement with CdTe pixel detector”, Journal of the Society of Materials Science, Japan, Vol. 69, No. 4, pp. 293-299 (2020).
• http://kikai.ed.niigata-u.ac.jp/CdTe/
• H.M. Ledbetter, Predicted monocrystal elastic constants of 304-type stainless steel, Physica B+C, Vol. 128, pp. 1-4 (1985).

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射光 ,  白色X線 ,  プロファイル ,  応力測定