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J-GLOBAL ID：202102291734310152   整理番号：21A0363990

放射光白色X線による細粒材料の新しい応力測定法

A Feasibility Study on Stress Measurement of Fine-Grained Materials using Synchrotron White X-Rays

著者 (5件)： 鈴木賢治 (新潟大) ,  豊川秀訓 (JASRI) ,  豊川秀訓 (QST) ,  佐治超爾 (JASRI) ,  梶原堅太郎 (JASRI)
資料名： X線材料強度に関するシンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on X-Ray Studies on Mechanical Behaviour of Materials)
巻： 54th  ページ： 43-46  発行年： 2020年 
JST資料番号： F0605B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・放射光を用いた二重露光法(DEM)による粗大粒のX線応力測定が有効であることを実証したが,本稿では,細粒材の連続環の新しい応力測定法「X線エネルギー法」を提案。
・放射光の白色X線とCdTeピクセル検出器及びDEMを組み合わせて炭素鋼S45Cの回折像を測定。
・X線エネルギー法により,X線エネルギーε,回折半径r及びパラメータβ(=1/2sinθ,回折角度θ)を用いて格子面間隔dの測定が可能。
・S45C試験片に曲げ応力を負荷して格子面間隔dを測定した結果を示し,測定結果は負荷歪の分布を捉えているがバラツキが多く,改善策について考察。

シソーラス用語： シンクロトロン放射 ,  多重露光 ,  *X線応力測定 ,  X線 ,  非破壊検査 ,  ピクセル検出器 ,  テルル化カドミウム ,  *S45C ,  X線回折 ,  角度 ,  *面間隔 ,  曲げ応力 ,  歪分布 ,  分散【variance】 ,  結晶粒径
準シソーラス用語： 二重露光 ,  回折角 ,  白色X線

分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (4件)：

• K. Suzuki, T. Shobu and A. Shiro, “Stress measurement of coarse grains using double exposure method”, Journal of the Society of Materials Science, Japan, Vol. 68, No. 4, pp. 312-317 (2019).
• K. Suzuki, A. Shiro, H. Toyokawa, C. Saji and T. Shobu, “Double-exposure method with synchrotron white X-ray for stress evaluation of coarsegrain materials”, Quantum Beam Science, Vol. 4 (3), 25 pp. 1-14 (2020). https://doi.org/10.3390/qubs4030025
• H. Toyokawa, C. Saji, M. Kawase, K. Ohara, A. Shiro, R. Yasuda, T. Shobu, A. Suenaga, H. Ikeda, “Development of CdTe pixel detectors for energy-resolved X-ray diffractions”, Proceedings of the Second International Symposium on Radiation Detectors and Their Uses (ISRD2018), Tsukuba, Japan, 23-26 January, 2019, Vol. 24, p. 011015.
• http://kikai.ed.niigata-u.ac.jp/CdTe/

タイトルに関連する用語 (4件)： 放射光 ,  白色X線 ,  細粒 ,  応力測定