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J-GLOBAL ID：202302288117289837   整理番号：23A0950560

ケルビンソース端子を備えたパワーデバイスのコモンソースインダクタンスの測定

Measurement of the Common Source Inductance of power devices with kelvin source terminal

著者 (5件)： 小橋孝太郎 (岡山大) ,  小西晃央 (岡山大) ,  石原將貴 (岡山大) ,  梅谷和弘 (岡山大) ,  平木英治 (岡山大)
資料名： パワーエレクトロニクス学会誌  (Journal of the Japan Institute of Power Electronics)
巻： 48  ページ： 134  発行年： 2023年03月31日 
JST資料番号： X0926A  ISSN： 1348-8538  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ・4端子MOSFETのコモンソースインダクタンス(Lcs)に対する実測による定量的評価は,これまで未報告。
・本研究では,4端子MOSFETのLcsの測定結果から,ワイヤボンディング構造とLcsの関係について考察。
・リードインダクタンスの影響を無視できる4端子MOSFETでもLcsが存在し,Lcsの発生がワイヤボンディング間の磁気結合に強く起因することを確認。

シソーラス用語： *半導体素子 ,  *インダクタンス ,  MOSFET ,  評価 ,  計測 ,  ワイヤボンディング ,  電磁結合
準シソーラス用語： *パワーデバイス ,  磁気結合 ,  実測 ,  定量的評価

分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (3件)： ケルビン ,  ソース端子 ,  パワーデバイス