研究者
J-GLOBAL ID:200901082710463365   更新日: 2020年08月27日

吉田 清和

ヨシダ キヨカズ | Yoshida Kiyokazu
所属機関・部署:
研究分野 (3件): 制御、システム工学 ,  制御、システム工学 ,  電子デバイス、電子機器
研究キーワード (3件): 電子顕微鏡学 ,  Electron Microscopy ,  Electron Microscopy
競争的資金等の研究課題 (5件):
  • 超高圧電子顕微鏡の通信遠隔操作
  • 超高圧電子顕微鏡の性能向上
  • 超高圧電子顕微鏡用並列検出方式EELSの開発
  • Development of remote operation system for UHVEM
  • Design of parallel detection EELS for UHVEM
MISC (78件):
  • Design of a Remote Control System for the 3MV Electron Microscope with a Software Operation Panel. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 1064CD
  • Design of a High Precision Tilting Apparatus for Electron Tomography with the 3MV HVEM. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 1146CD
  • Three-Dimensional Analysis of Large Scale Models of the Cerebellar Glomerulus Geometry Using Thick Section by Electron Microscopic Tomography. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 0706CD
  • Microscopic Tomography with Ultra-HVEM and Applications. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 0680CD
  • Design of a High Precision Tilting Apparatus for Electron Tomography with the 3MV HVEM. Proc. 4th Inter. Cong. on Electron Tomography, 2006, San diego. 2006. p 69
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特許 (3件):
  • Apparatus for measuring electron beam intensity and electron microscope comprising the same
  • 日本国特許 特許番号 特許第3125045号 電子線強度測定装置および電子顕微鏡
  • United States Patent Patent Number 6078046 Apparatus for measuring electron beam intensity and electron microscope comprising the same
学位 (1件):
  • 博士 (工学) (大阪大学)
受賞 (1件):
  • 1998 - 日本電子顕微鏡学会 技術功労賞
所属学会 (2件):
日本顕微鏡学会 ,  応用物理学会
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