研究者
J-GLOBAL ID:201701017791729980   更新日: 2024年12月06日

山岸 裕史

ヤマギシ ユウジ | Yamagishi Yuji
研究分野 (3件): ナノ材料科学 ,  薄膜、表面界面物性 ,  エネルギー化学
研究キーワード (4件): 走査型プローブ顕微鏡 ,  リチウムイオン電池 ,  全固体電池 ,  薄膜・表面界面物性
競争的資金等の研究課題 (4件):
  • 2023 - 2028 次世代全固体蓄電池材料の評価・基盤技術開発
  • 2024 - 2026 全固体電池の界面イオンダイナミクスを可視化する高速オペランドKPFM法の開発
  • 2024 - 2025 界面イオンダイナミクスを可視化する高速オペランドKPFM法の開拓
  • 2018 - 2019 SiC/熱酸化膜界面における移動度劣化のメカニズムの実証
論文 (20件):
  • Yuji Yamagishi, Satoru Ohuchi, Emiko Igaki, Kei Kobayashi. Exploring the Molecular-Scale Structures at Solid/Liquid Interfaces of Li-Ion Battery Materials: A Force Spectroscopy Analysis with Sparse Modeling. Nano Letters. 2024. 24. 21. 6255-6261
  • Yuji Yamagishi, Kei Kobayashi, Tomoharu Kimura, Kei Noda, Hirofumi Yamada. Nanoscale visualization of fast carrier dynamics in organic thin-film transistors by time-resolved electrostatic force microscopy. Journal of Applied Physics. 2024. 135. 12. 125501
  • Yuji Yamagishi, Hiroaki Kominami, Kei Kobayashi, Yuki Nomura, Emiko Igaki, Hirofumi Yamada. Molecular-Resolution Imaging of Interfacial Solvation of Electrolytes for Lithium-Ion Batteries by Frequency Modulation Atomic Force Microscopy. Nano Letters. 2022. 22. 24. 9907-9913
  • Yuki Nomura, Kazuo Yamamoto, Yuji Yamagishi, Emiko Igaki. Lithium Transport Pathways Guided by Grain Architectures in Ni-Rich Layered Cathodes. ACS Nano. 2021. 15. 12. 19806-19814
  • Yuji Yamagishi, Hiromi Morita, Yuki Nomura, Emiko Igaki. Visualizing Lithiation of Graphite Composite Anodes in All-Solid-State Batteries Using Operando Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry. The Journal of Physical Chemistry Letters. 2021. 4623-4627
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講演・口頭発表等 (34件):
  • Preparation of the Semi Li-Doped Li4Ti5O12 Wafer for Two-Phase Imaging
    (32nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM32) 2024)
  • in situ走査型広がり抵抗顕微鏡観察による全固体電池の劣化挙動解析
    (第65回電池討論会 2024)
  • 走査型広がり抵抗顕微鏡像における全固体電池内部の粒子間接触の影響:三次元構造モデルによるシミュレーション
    (第65回電池討論会 2024)
  • 周波数変調AFMによるリチウムイオン電池用電解液/マイカ界面構造の計測
    (第70回応用物理学会春季学術講演会 2023)
  • High Resolution Mapping of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local-DLTS Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
    (2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits 2019)
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学歴 (3件):
  • 2013 - 2016 京都大学大学院 工学研究科 電子工学専攻 博士課程
  • 2011 - 2013 京都大学大学院 工学研究科 電子工学専攻 修士課程
  • 2007 - 2011 京都大学 工学部 電気電子工学科
学位 (1件):
  • 博士(工学) (京都大学)
経歴 (3件):
  • 2024/04 - 現在 国立研究開発法人産業技術総合研究所 主任研究員
  • 2018/06 - 2024/03 パナソニック ホールディングス株式会社 主任研究員
  • 2016/04 - 2018/05 東北大学 電気通信研究所 特任助教
所属学会 (2件):
応用物理学会 ,  電気化学会
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