研究者
J-GLOBAL ID：202101021471898415   更新日: 2024年10月17日

橋爪 正樹

Hashizume Masaki
所属機関・部署：
放送大学 徳島学習センター

放送大学 徳島学習センター について


職名： 所長・特任教授
研究分野 (2件)： 電子デバイス、電子機器 ,  計算機システム
競争的資金等の研究課題 (8件)：
  • 2023 - 2026 ダイ間配線の出荷後電気検査をも可能にする組込み型検査回路に関する研究
  • 2017 - 2021 ICチップの入出力信号線の弛張発振回路を用いた破断予兆検出法に関する研究
  • 2015 - 2017 タイミングウインドウ内の電荷供給量によるICの電流テスト法に関する研究
  • 2012 - 2014 組み込み型電圧変動センサを用いた動的電流テスト法に関する研究
  • 2010 - 2011 SoC内DA変換器の電流テスト容易化設計法に関する研究
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論文 (136件)：
  • Daichi Akamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume. Design of an Efficient PRPG for Testing an Approximate Multiplier Using Truncation. Proc. of 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC). 2024
  • Yamahashi Yuya, Ohmatsu Masao, Hiroyuki Yotsuyanagi, Shyue-Kung Lu, Masaki Hashizume. Dependence of Threshold Values for Interconnect Testing with Relaxation Oscillators on Unit-to-unit Variations of ICs. Proc. of 2024 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC). 2024
  • 四柳 浩之, 橋爪 正樹. バウンダリスキャンを用いる不完全接続の検査. エレクトロニクス実装学会誌. 2024. 27. 4. 288-293
  • Yuki Ikiri, Hiroyuki Yotsuyanagi, Fara Ashikin Binti Ali, Shyue-Kung Lu, Masaki Hashizume. A DfT Technique for Electrical Interconnect Testing of Circuit Boards with 3D Stacked SRAM ICs. Proc. of 12th IEEE CPMT Symposium Japan (ICSJ2023). 2023. 113-116
  • Shogo Tokai, Daichi Akamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume. On Test Pattern Generation Method for an Approximate Multiplier Considering Acceptable Faults. Proceedings - 7th IEEE International Test Conference in Asia, ITC-Asia 2023. 2023
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MISC (106件)：
  • 吉村俊哉, 四柳浩之, 橋爪正樹. 半断線故障検査容易化設計のFPGAへの実装に関する検討. エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM). 2024. 38th
  • 有元康滋, 四柳浩之, 橋爪正樹. 待機モードICからの配線テスト可能なバウンダリスキャン設計についての検討. エレクトロニクス実装学会講演大会講演論文集(CD-ROM). 2023. 37th
  • 大松正男, 大寺佑都, 四柳浩之, 橋爪正樹, LU S-K. アナログ素子のみで構成する弛緩発振器によるIC間抵抗断線の検出可能性調査. マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集. 2023. 33rd
  • 赤松大地, 東海翔午, 四柳浩之, 橋爪正樹. 切り捨てビットを考慮する近似乗算器用BIST回路の面積削減について. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2023. 123. 258(VLD2023 30-79)
  • 有元康滋, 四柳浩之, 奥本裕也, 宮谷康希, 橋爪正樹. 待機モードICの配線検査可能なバウンダリスキャンの動作検証. 電気・電子・情報関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM). 2023. 2023
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書籍 (4件)：
  • Three-Dimensional Integration of Semiconductors --- Processing, Materials, and Applications --- Trends in 3D Integrated Circuit (3D-IC) Testing Technology
    Springer 2015
  • LSIテスティングハンドブック
    株式会社 オーム社 2008
  • パソコンによるLisp入門-増補版-
    森北出版 1986
  • パソコンによるLisp入門
    森北出版 1985
学歴 (3件)：
  • 1993 - 京都大学 論文博士
  • 1981 - 徳島大学大学院工学研究科修士課程電気工学専攻修了
  • 1979 - 徳島大学工学部電気工学科卒業
学位 (1件)：
  • 博士(工学) (京都大学)
経歴 (14件)：
  • 2023/04 - 現在 放送大学 徳島学習センター 所長・特任教授
  • 2020/04 - 2022/03 徳島大学 大学院社会産業理工学研究部 研究部長
  • 2020/04 - 2022/03 徳島大学 大学院創成科学研究科 研究科長
  • 2017/09 - 2020/03 徳島大学 大学院先端技術科学教育部 教育部長
  • 2017/09 - 2020/03 徳島大学 理工学部 理工学部長
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受賞 (16件)：
  • 2024/06 - 日本電子回路工業会(JPCA) アカデミックプラザ賞 待機状態IC の入力配線検査を行う バウンダリスキャン用コントローラの試作
  • 2019/11/14 - IEEE 2018 JETTA/TTTC Best Paper Award Address Remapping Techniques for Enhancing Fabrication Yield of EmbeddedMemories
  • 2019/06/21 - International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications (ITC-CSCC) Best Paper Award On Design and Evaluation of a TDC Cell Embedded in the Boundary Scan Circuit for Delay Fault Testing of 3D ICs
  • 2019/02/18 - IEEE CASS Shikoku Chapter IEEE CASS Shikoku Chapter Best Paper Award Address Scrambling and Data Inversion Techniques for Yield Enhancement of NROM-Based ROMS
  • 2018/12/06 - 電子情報通信学会 ディペンダブルコンピューティング研究専門委員会 第5回研究会若手優秀講演賞 TDC組込み型バウンダリスキャンにおける遅延付加部のリオーダによる配線長の低減
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所属学会 (3件)：
エレクトロニクス実装学会 ,  IEEE ,  電子情報通信学会
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