研究者
J-GLOBAL ID:200901004223661630   更新日: 2024年07月22日

渡邊 健夫

ワタナベ タケオ | Watanabe Takeo
所属機関・部署:
職名: 特任教授
ホームページURL (2件): http://www.lasti.u-hyogo.ac.jphttps://www.lasti.u-hyogo.ac.jp/english/index.html
研究分野 (2件): 電子デバイス、電子機器 ,  光工学、光量子科学
研究キーワード (2件): 電子デバイス・機器工学 ,  応用光学・量子光工学
競争的資金等の研究課題 (11件):
  • 2015 - 2018 軟X線領域の薄膜の光学定数の精密測定
  • 2013 - 2016 高感度且つ低LWRを有する1Xnm級EUVレジストの開発
  • 2010 - 2012 EUV 干渉露光による 20nm以下の極微細パタン形成
  • 2003 - 2005 極端紫外域での位相差型X線顕微鏡による表面微細構造観察
  • 1999 - 2001 薄膜堆積法によるX線光学素子用非球面形状の創製
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論文 (310件):
  • Takahiro Ueda, Marcio D. Lima, Tetsuo Harada, Takeo Watanabe, Takeshi Kondo. EUV durability of CNT pellicles for next-generation scanner. Japanese Journal of Applied Physics. 2024. 63. 3
  • Rikuya Imai, Shinji Yamakawa, Tetsuo Harada, Takeo Watanabe. Present Status of EUV Interference Lithography at NewSUBARU. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 53-59
  • Shinji Yamakawa, Tetsuo Harada, Koji Nakanishi, Takeo Watanabe. Characterization of Photoacid Generator Bound Resist with X-ray Absorption Spectroscopy at NewSUBARU. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 47-52
  • Atsunori Nakamoto, Shinji Yamakawa, Tetsuo Harada, Takeo Watanabe. Spatial Distribution Analysis of Polymers in Resist Thin Film by Reflection-mode Resonant Soft X-ray Scattering. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 41-45
  • Shuhei Iguchi, Tetsuo Harada, Shinji Yamakawa, Takeo Watanabe, Takeharu Motokawa. Spatial Distribution Imaging of Resist Thin Film with Micrometer Resolution using Reflection Type Soft X-ray Projection Microscope. Journal of Photopolymer Science and Technology. 2023. 36. 1. 25-30
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MISC (194件):
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特許 (35件):
  • 感光性樹脂及び感光性組成物
  • Photosensitive Resin, and Photosensitive Composition
  • 形状測定装置
  • 短波長コヒーレント光源及び透過型の減光機構
  • 感光性樹脂及び感光性組成物
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書籍 (27件):
  • CRDS 研究開発の俯瞰報告書ナノテクノロジー・材料分野
    国立研究開発法人 科学振興機構 編 2023
  • フォトレジストの最先端技術
    CMC出版 2022
  • 基礎研究および産業利用を推進する放射光施設「ニュースバル」
    文門科学教育通信 文部科学省 2022
  • CRDS 研究開発の俯瞰報告書ナノテクノロジー・材料分野
    国立研究開発法人 科学振興機構 編 2021
  • UV・EB硬化の最新開発動向
    CMC出版 2021
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講演・口頭発表等 (882件):
  • EUVリソグラフィおよびレジスト・フォトマスクの概要、Beyond EUVLへの将来展望 ~目指すべき半導体業界の将来像~
    (「EUVリソグラフィ」AndTech WEB講習会(オンライン) 2023)
  • Technical issue of EUVL, prospect for EUVL and beyond EUVL
    (IEUVI Resist TWG Workshop 2023 (online))
  • EUVリソグラフィ技術開発の現状およびその取り巻く環境、今後の展開
    (第253回フォトポリマー懇話会講演会 先端・次世代リソグラフィ技術(オンライン) 2023)
  • EUVリソグラフィー技術開発の現状および今後の展開について
    (第70回応用物理学会春季学術講演会シンポジウム マイクロ・ナノスケール微細加工の表面界面先端技術)
  • ニュースバルにおけるEUVL基板技術開発の現状と今後の展開
    (ニュースバルシンポジウム2023 2023)
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Works (3件):
  • EUVリソグラフィ用レジスト材料の研究開発
    1993 - 現在
  • EUVリソグラフィの研究
    渡邊健夫 1993 - 現在
  • X線縮小露光評価技術の研究開発
    1999 - 2001
学歴 (1件):
  • 1987 - 1990 大阪市立大学 理学研究科後期博士課程 物理学専攻
学位 (1件):
  • 理学博士 (大阪市立大学)
経歴 (18件):
  • 2023/04 - 現在 兵庫県立大学 学長特別補佐(先端研究担当)
  • 2023/04 - 現在 兵庫県立大学 産学連携・研究推進機構 放射光産業利用支援本部 本部長代行
  • 2022/04 - 現在 兵庫県立大学 学長特別補佐(先端科学技術・異分野融合研究推進)
  • 2022/04 - 現在 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 所長特別補佐
  • 2015/04 - 現在 兵庫県立大学 高度産業科学技術研究所 極端紫外線リソグラフィー研究開発センター センター長
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委員歴 (37件):
  • 2022 - 現在 兵庫県「次世代電池・半導体技術開発拠点推進協議会」 座長
  • 2022 - 現在 International Conference on Photopolymer Science and Technology President
  • 2021 - 現在 一般社団法人 日本半導体製造協会 会員
  • 2019/04 - 現在 Photomask Japan Conference chair
  • 2018 - 現在 International Conference on Photomask Japan Conference Chair and Chair of the Organizing Committee
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受賞 (6件):
  • 2023/04 - International Conference of Photopolymer Science and Technology Outstanding Contributions A ward
  • 2022/07 - 研究活動教員表彰 最優秀賞
  • 2016/05 - ニュークリアサイエンス協会 ニュークリアサイエンス協会賞 放射光を利用したレジストの開発に関する研究
  • 2013/06 - International Workshop on EUV Lithography Best Paper Award R&D of EUV Lithography
  • 2008/06 - International Workshop on EUV Lithography Best Poster Award 1st Place EUV interference lithography employing 11-m long undulator as a light source
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所属学会 (11件):
日本化学会 ,  一般社団法人 次世代日本半導体製造協会 ,  高分子学会 ,  日本放射光学会 ,  日本応用物理学会 ,  Society of Photopolymer Science and Technology (SPST) ,  International Conference on Photomask Japan (PMJ) ,  Opitical Society of America (OSA) ,  The International Society for Optics and Photonics (SPIE) ,  Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) ,  日本物理学会
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