研究者
J-GLOBAL ID:200901015771346079
更新日: 2022年09月05日
Mistrik Jan
ミストリーク ヤン | Mistrik Jan
所属機関・部署:
旧所属 静岡大学 電子工学研究所 ナノデバイス材料部門
旧所属 静岡大学 電子工学研究所 ナノデバイス材料部門 について
「旧所属 静岡大学 電子工学研究所 ナノデバイス材料部門」ですべてを検索
職名:
助手
研究分野 (1件):
光工学、光量子科学
研究キーワード (2件):
磁気光学 分光エリプソメトリ 薄膜
, Magneto Optics Spectroellipsometry Thin Films
競争的資金等の研究課題 (2件):
2003 - ULSI用新規材料の分光エリプソメトリ
2003 - Spectroellipsometry of new materials for ULSI
MISC (42件):
R Antos, J Mistrik, T Yamaguchi, S Visnovsky, SO Demokritov, B Hillebrands. Evaluation of the quality of Permalloy gratings by diffracted magneto-optical spectroscopy. OPTICS EXPRESS. 2005. 13. 12. 4651-4656
R Antos, J Mistrik, T Yamaguchi, S Visnovsky, SO Demokritov, B Hillebrands. Evidence of native oxides on the capping and substrate of permalloy gratings by magneto-optical spectroscopy in the zeroth- and first-diffraction orders. APPLIED PHYSICS LETTERS. 2005. 86. 23. 1-3
R Antos, J Mistrik, T Yamaguchi, S Visnovsky, SO Demokritov, B Hillebrands. Evaluation of the quality of Permalloy gratings by diffracted magneto-optical spectroscopy. OPTICS EXPRESS. 2005. 13. 12. 4651-4656
R Antos, J Mistrik, T Yamaguchi, S Visnovsky, SO Demokritov, B Hillebrands. Evidence of native oxides on the capping and substrate of permalloy gratings by magneto-optical spectroscopy in the zeroth- and first-diffraction orders. APPLIED PHYSICS LETTERS. 2005. 86. 23. 1-3
R Antos, Ohlidal, I, D Franta, P Klapetek, J Mistrik, T Yamaguchi, S Visnovsky. Spectroscopic ellipsometry on sinusoidal surface-relief gratings. APPLIED SURFACE SCIENCE. 2005. 244. 1-4. 221-224
もっと見る
学歴 (4件):
- 2002 ベルサイユ大学 材料科学 磁気・光学専攻
- 2002 University of Versailles Material Sciences Laboratory of Magnetism and Optics
- 1998 プラハチャールス大学 数学物理学部 物理学科
- 1998 Praha Charles University Faculty of Mathematics and Physics Institute of Physics
学位 (1件):
理学博士 (ベルサイユ大学)
所属学会 (2件):
応用物理学会
, Japanese Society of Applied Physics
※ J-GLOBALの研究者情報は、
researchmap
の登録情報に基づき表示しています。 登録・更新については、
こちら
をご覧ください。
前のページに戻る
TOP
BOTTOM