研究者
J-GLOBAL ID:200901025452227429   更新日: 2020年05月02日

岸野 正剛

キシノ セイゴウ | Kishino Seig(]J1152[)
ホームページURL (1件): http://www.elnics.eng.himeji-tech.ac.jp/d1/
研究分野 (3件): 電子デバイス、電子機器 ,  結晶工学 ,  応用物性
研究キーワード (4件): 半導体MISデバイス ,  半導体の電気的格子欠陥 ,  Semiconductor MIS device ,  Electronic Defects in Semiconductor
競争的資金等の研究課題 (4件):
  • 極薄SOIウェーハに対する極限評価技術の開発
  • 半導体の深い準位及び界面準位に関する研究
  • Development of ultimate characterization technique for very thin SOI wafer
  • Deep levels and interface traps in Semiconductor
MISC (26件):
書籍 (16件):
  • 今日から使える物理数学
    講談社 2004
  • 電子はめぐる
    裳華房 1998
  • Contactless Transient Spectroscopy for The Measurement of Localized States in Semiconductors
    Characterization and Metrology for ULSI Technology, ed. by D. G. Seiler et al. , The American Institute of Physics 1998
  • 量子力学 基礎と物性
    裳華房 1997
  • Quantum Mechanics-Fundamentals and Applications-
    1997
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Works (4件):
  • ナノメータ・デバイス対応のSOIウェーハに対する極限評価技術の開発
    1999 - 2004
  • Ultimate characterization technique of SOI wafer for the nano-scale LSI devices
    1999 - 2004
  • キャリアのライフタイムとMOSデバイスの界面トラップの相関関係に関する研究
    1998 - 1999
  • Correlation between carrier lifetime and MOS interface trap
    1998 - 1999
学歴 (2件):
  • - 1962 大阪大学 精密工学科
  • - 1962 大阪大学
学位 (1件):
  • 工学博士 (東京大学)
経歴 (9件):
  • 1981 - 1987 日立製作所武蔵工場 主任技師
  • 1981 - 1987 senior engineer of wusashi works of Hitachi Ltd.
  • 1978 - 1980 超エル・エス・アイ技術研究組合共同研究所 主任研究員
  • 1978 - 1980 senior researcher of cooperative laboratories, VLSI research association
  • 1976 - 1977 日立製作所中央研究所 主任研究員
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委員歴 (2件):
  • 2000 - 2002 応用物理学会 理事
  • 1991 - 1995 応用物理学会 JJAP編集委員
受賞 (1件):
  • 1998 - 兵庫県科学賞
所属学会 (3件):
日本結晶学会 ,  電気学会 ,  応用物理学会
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