研究者
J-GLOBAL ID:200901061910276724
更新日: 2022年09月13日
青木 貞雄
アオキ サダオ | Aoki Sadao
所属機関・部署:
旧所属 筑波大学 数理物質科学研究科
旧所属 筑波大学 数理物質科学研究科 について
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職名:
教授
研究分野 (1件):
光工学、光量子科学
競争的資金等の研究課題 (2件):
X線光学
X-ray Optics
MISC (63件):
Phase-contrast hard X-ray microscope with a zone plate at the photon factory. J. Phys. IV France. 2003. 104. 591-594
Phase-contrast hard X-ray microscope with a zone plate at the photon factory. J. Phys. IV France. 2003. 104. 591-594
H Takano, S Aoki, M Kumegawa, N Watanabe, T Ohhigashi, T Aota, K Yamamoto, H Yokosuka, R Tanoue, Y Tsujita, et al. X-ray scattering microscope with a Wolter mirror. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. 2002. 73. 7. 2629-2633
H Takano, S Aoki, M Kumegawa, N Watanabe, T Ohhigashi, T Aota, K Yamamoto, H Yokosuka, R Tanoue, Y Tsujita, et al. X-ray scattering microscope with a Wolter mirror. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS. 2002. 73. 7. 2629-2633
T Ohigashi, N Watanabe, H Yokosuka, T Aota, H Takano, A Takeuchi, S Aoki. Elemental analysis with a full-field X-ray fluorescence microscope and a CCD photon-counting system. JOURNAL OF SYNCHROTRON RADIATION. 2002. 9. 9. 128-131
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書籍 (10件):
光学入門
共立出版 2002
Developement of a Soft X-ray Dark-Field Imaging Microscope
X-Ray Microscopy: Proceedings of the Sixth International Conference 2000
Phase-Contrast Hard X-ray Imaging Microscope with Wolter Mirror Optics
X-Ray Microscopy: Proceedings of the Sixth International Conference 2000
Elemental Mapping with an X-Ray Fluorescence Imaging Microscope
X-Ray Microscopy: Proceedings of the Sixth International Conference 2000
Developement of a Soft X-ray Dark-Field Imaging Microscope
X-Ray Microscopy: Proceedings of the Sixth International Conference 2000
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学歴 (4件):
- 1974 東京大学 理学系研究科 相関理化学
- 1974 東京大学
- 1969 東京大学 教養部(理科系) 基礎科学科
- 1969 東京大学
学位 (2件):
理学博士 (東京大学)
理学修士 (東京大学)
所属学会 (4件):
日本放射光学会
, 日本光学会
, 応用物理学会
, 日本物理学会
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