吉田清和

ヨシダキヨカズ | Yoshida Kiyokazu

所属機関・部署：

研究分野 (2件)：制御、システム工学 , 電子デバイス、電子機器

研究キーワード (2件)：電子顕微鏡学 , Electron Microscopy

競争的資金等の研究課題 (5件)：

MISC (78件)：

Design of a Remote Control System for the 3MV Electron Microscope with a Software Operation Panel. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 1064CD
Design of a High Precision Tilting Apparatus for Electron Tomography with the 3MV HVEM. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 1146CD
Three-Dimensional Analysis of Large Scale Models of the Cerebellar Glomerulus Geometry Using Thick Section by Electron Microscopic Tomography. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 0706CD
Microscopic Tomography with Ultra-HVEM and Applications. Proc. 16th Inter. Conf. on Electron Microscopy, 2006, Sapporo. 2006. 0680CD
Design of a High Precision Tilting Apparatus for Electron Tomography with the 3MV HVEM. Proc. 4th Inter. Cong. on Electron Tomography, 2006, San diego. 2006. p 69

特許 (3件)：

Apparatus for measuring electron beam intensity and electron microscope comprising the same
日本国特許特許番号特許第3125045号電子線強度測定装置および電子顕微鏡
United States Patent Patent Number 6078046 Apparatus for measuring electron beam intensity and electron microscope comprising the same

学位 (1件)：

受賞 (1件)：

所属学会 (2件)：

日本顕微鏡学会 , 応用物理学会

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吉田 清和