柴田直哉

シバタナオヤ | Shibata Naoya

所属機関・部署：
職名：教授
ホームページURL (1件)： http://interface.t.u-tokyo.ac.jp/

研究分野 (3件)：構造材料、機能材料 , 無機材料、物性 , 金属材料物性

研究キーワード (8件)：第一原理計算 , セラミックス , 走査型透過電子顕微鏡 , 界面 , 粒界 , Scanning Transmission Electron Microscopy , Grain boundary , Interface

競争的資金等の研究課題 (15件)：

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論文 (414件)：

Satoko Toyama, Takehito Seki, Bin Feng, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Direct observation of space-charge-induced electric fields at oxide grain boundaries. Nature Communications. 2024. 15. 1
Taichi Kusumi, Shun Katakami, Ryo Ishikawa, Kazuaki Kawahara, Tiarnan Mullarkey, Julie Marie Bekkevold, Jonathan J.P. Peters, Lewys Jones, Naoya Shibata, Masato Okada. New Poisson denoising method for pulse-count STEM imaging. Ultramicroscopy. 2024. 264. 113996-113996
Ryuhei Murakami, Bin Feng, Koji Matsui, Shun Kondo, Naoya Shibata, Yuichi Ikuhara. Fabrication of 3YSZ with single tetragonal phase by ultrafast high-temperature sintering. Ceramics International. 2024. 50. 19. 37308-37313
Julie Marie Bekkevold, Jonathan J P Peters, Ryo Ishikawa, Naoya Shibata, Lewys Jones. Ultra-fast Digital DPC Yielding High Spatio-temporal Resolution for Low-Dose Phase Characterization. Microscopy and Microanalysis. 2024
Jiake Wei, Zhangze Xu, Wenjie Shen, Bin Feng, Ryo Ishikawa, Naoya Shibata, Yuichi Ikuhara, Xuedong Bai. Real-Space Tilting Method for Atomic Resolution STEM Imaging of Nanocrystalline Materials. Small Methods. 2024

MISC (105件)：

Eita Tochigi, Bin Miao, Shun Kondo, Takaaki Sato, Naoya Shibata, Hiroyuki Fujita, Yuichi Ikuhara. Deformation and Fracture Analysis by In Situ and Atomic-resolution Transmission Electron Microscopy. Materia Japan. 2021. 60. 1. 35-39
Eita Tochigi, Takaaki Sato, Naoya Shibata, Hiroyuki Fujita, Yuichi Ikuhara. Atomic-scale Analysis of Mechanical Response of SrTiO3 by MEMS-based in Situ STEM Mechanical Testing. Microscopy and Microanalysis. 2020. 26. S2. 1838-1840
遠山慧子, 関岳人, 蟹谷裕也, 工藤喜弘, 冨谷茂隆, 幾原雄一, 柴田直哉. DPC STEMを用いたGaN系半導体ヘテロ接合界面における電場定量観察法の開発. 日本セラミックス協会秋季シンポジウム講演予稿集(CD-ROM). 2020. 33rd
Akimitsu Ishizuka, Kazuo Ishizuka, Ryo Ishikawa, Naoya Shibata, Yuichi Ikuhara, Hiroki Hashiguchi, Ryusuke Sagawa. Improving the depth resolution of HAADF sectioning by 3D deconvolution. Microscopy and Microanalysis. 2020
Eita Tochigi, Takaaki Sato, Naoya Shibata, Hiroyuki Fujita, Yuichi Ikuhara. In situ STEM Mechanical Experiments at Atomic-Resolution Using a MEMS Device. Microscopy and Microanalysis. 2019. 25. S2. 1884

講演・口頭発表等 (12件)：

Atomic resolution electron microscopy under magnetic field free condition
(2021)
Development and application of magnetic-field-free atomic-resolution scanning transmission electron microscopy
(MRM 2021 2021)
原子分解能磁場フリー電子顕微鏡の開発と原子スケール磁場観察
(第36回分析電子顕微鏡討論会 2021)
先進電子顕微鏡による原子分解能電磁場イメージング
(「物質階層原理研究」&「ヘテロ界面研究」合同研究会 2021)
無磁場STEMによる磁性材料・デバイス解析
(学術フォーラム「カーボンニュートラル社会を支える最先端分析技術」 2021)

学位 (1件)：

受賞 (13件)：

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所属学会 (1件)：

日本金属学会日本セラミックス協会日本顕微鏡学会

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柴田 直哉