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J-GLOBAL ID：200902000945476160   整理番号：91A0929594

Chemically assisted ion beam etching(CAIBE)-A new technique for TEM specimen preparation of materials.

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著者 (3件)：
ALANI R

ALANI R について

(Gatan Inc., CA)

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JONES J

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SWANN P

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資料名：
Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials 2  (Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials 2)

Specimen Preparation for Transmission Electron Microscopy of Materials 2 について


ページ： 85-101  発行年： 1990年 
JST資料番号： K19910578  ISBN： 1-55899-088-7  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
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TEM

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