Mirau干渉計測による磁気テープの表面形状の測定

BHUSHAN B; WYANT J C; KOLIOPOULOS C L

文献

J-GLOBAL ID：200902002787135441 整理番号：85A0485551

Mirau干渉計測による磁気テープの表面形状の測定

Measurement of surface topography of magnetic tapes by Mirau interferometry.

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巻： 24 号： 10 ページ： 1489-1497 発行年： 1985年05月15日
JST資料番号： B0026B ISSN： 1559-128X CODEN： APOPAI 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

硬度が低いため触針ならい法が用いられない磁気テープのような高...

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長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器 , 干渉測定と干渉計

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