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J-GLOBAL ID：200902005191440181   整理番号：90A0283505

引っかき(スクラッチ)試験による薄膜の特性評価

Characteristic evaluation of thin films by scratch tests.

著者 (3件)： 伊藤義康 (東芝 重電技研) ,  斎藤正弘 (東芝 重電技研) ,  柏谷英夫 (東芝 重電技研)
資料名： 機械の研究  (Science of Machine)
巻： 42  号： 3  ページ： 377-383  発行年： 1990年03月 
JST資料番号： F0147A  ISSN： 0368-5713  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： スクラッチ試験の概要と皮膜の密着力評価の発展の経緯を紹介。本...

シソーラス用語： 膜厚 ,...

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分類 (1件)： 材料試験  (HB02020U)

タイトルに関連する用語 (4件)： スクラッチ ,  試験 ,  薄膜 ,  特性評価